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雙彎晶單波長X熒光光譜儀-天瑞儀器產品說明、技術參數及配置 WDX3300雙彎晶單波長X熒光光譜儀采用*X射線熒光光譜(XRF)技術,創新性融合雙彎晶分光系統與波長色散檢測技術,通過雙曲面彎晶的二次聚焦增強效應,顯著提升了儀器對輕元素的檢測性能，檢出限可達0.16ppm,靈敏度較傳統單彎晶結構提升數倍以上。

WDX-200小型多道波長色散X熒光（xrf）光譜儀可配置10個固定分光道，可同時分析10種元素。根據用戶的應用要求可配置為從Na到U的任意十種元素。該儀器可廣泛應用于水泥、鋼鐵、粉末冶金、煤炭...

WDX 400E波長色散熒光光譜儀WDX 400E 突破點一：對各種樣品進行快速定性分析WDX 400E 突破點二：在低X光管功率下對樣品可進行全元素同時測試WDX400E僅用400W的光管功率，解決了大功率掃描道需要3000W以上光管功率...